服务于网络自动化测试测量控制

精准、可靠、稳定、简单、方便

您当前的位置:

用一科技首页  欢迎您的光临!


   用一科技致力于网络自动化测试测量控制技术的应用与推广。权衡价格、质量,为客户的测试测量控制构建做最好的方案设计顾问。

   用一科技服务于单总线产品的应用和推广,广泛应用智能电池的识别和电量管理中。
为客户提供一系列原装和兼容的开发测试工具和产品,同时也为客户提供以上的技术支
持和产品的编程烧写。

  用一科技网站恭贺大家新年快乐!


-->添加1-WIRE专栏.  -->添加自主产品专栏.
-->添加二手产品专栏.  -->添加YA-EV2200第二代 产品.
-->添加YA-DS9097 产品.   -->添加YA-DS9097U-009产品.   
-->添加YA-DS9097E-E25产品.  

-->兼容DALLAS系列开发测试工具 -->兼容TI系列开发工具
-->兼容DALLAS系列器件产品 -->兼容TI系列产品
-->兼容DALLAS系列软件产品


    为客户提供DALLAS的专利协议1-WIRE系列方面的技术.便于客户再使用1-WIRE器件或者构建MICROLAN网络系统时更方便.  

-->1-WIRE 读码器


-->1-WIRE 产品 -->数据采集 
-->BQ系列产品 -->系统集成
-->电子学习开发工具 -->仪器仪表
-->传感器 -->信号调理
-->接口


-->电子元件/部件  -->数据采集
-->传感器 -->系统集成
-->接口 -->仪器仪表 
-->信号调理


  

    为客户提供构建测试测量控制系统时的解决方案.使客户构建测试测量控制系统时更快捷.

-->IC半导体测试 -->数据采集
-->电子产品测试 -->虚拟仪器
-->传感器 -->信号条理
-->接口 -->电量测试
-->元部件测试


-->ATE:基于仪器仪表的自动测试测量控制系统的应用笔记

-->PC-BASID:基于PC的数据采集系统的应用笔记

-->单片机:基于单片机构建测试测量控制系统的应用笔记

-->CPLD/FPGA:基于CPLD/FPGA构建测试测量控制系统的应用笔记

-->DOS/TC/TC++:基于DOS下DOS/TC/TC++构建测试测量控制系统的应用笔记

-->VB/VC/C++/DELPHI:基于WINDOWS下VB/VC/C++构建测试测量控制系统的应用笔记

-->其它:其它在构建测试测量控制系统的应用笔记


-->单片机开发:MCS-51,Microchip,HOLTEK,Motorola,NEC,ADI,TI,CYPRESS,PHILIPS等

-->CPLD/FPGA开发: ALTERA,XILINX,Lattice。

-->ATE开发: HP(agilent),FLUKE,NI,Tektronix,HIOKI,GoodWill,ADVANTEST。

-->系统集成:可按客户要求定制及改造自动测试测量控制系统。

-->软件开发:可以为客户开发DOS或WINDOWS应用软件。

 

  用一科技为客户提供测试测量控制 技术支持应用服务,欢迎合作!


-->您对网站有什么意见? 您对产品有什么需求? 

-->您有别的网络测试测控要求吗?

-->请您使用客户留言板,留下您宝贵的意见!谢谢!!!


网  站: www.eATMC.com 地  址: 深圳市罗湖区泥岗村
邮  件: wz_net@163.com 电  话: 0755-22159576  0755-25871058
联系人: 王先生   郑小姐 传  真: 0755-22159576              
手  机: 137-60148258 Q    Q: 284718278 点击这里给我发消息

Copyright © 2005-2007  版权所有 用一科技 All Rights Reserved 

备案序号:粤ICP备05061808号